SPM600系列半導體參數(shù)分析儀是一款專用于半導體材料光電測試的系統(tǒng)。系統(tǒng)集成高精度光譜掃描、光電流掃描以及光響應速率測試。40um探測光斑，實現(xiàn)百微米級探測器的絕對光譜響應度測量。超高穩(wěn)定性光源支持長時間的連續(xù)測試，是半導體微納器件研究的優(yōu)選。

產(chǎn)品型號：SPM600

更新時間：2025-11-08

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SPM600 系列半導體參數(shù)分析儀是一款專用于半導體材料光電測試的系統(tǒng)。其功能全面，提供多種重要參數(shù)測試。系統(tǒng)集成高精度光譜掃描，光電流掃描以及光響應速率測試。40μm 探測光斑，實現(xiàn)百微米級探測器的絕對光譜響應度測量。超高穩(wěn)定性光源支持長時間的連續(xù)測試，豐富的光源選擇以及多層光學光路設計可擴展多路光源，例如超連續(xù)白光激光器，皮秒脈沖激光器，半導體激光器，鹵素燈，氙燈等，滿足不同探測器測試功能的要求。是半導體微納器件研究的優(yōu)選。